紅外干貨- OMNIC數據處理之再處理

匹配分辨率

若將一種樣品的譜圖與其它低分辨率下測得的樣品譜圖相比較，可將此樣品譜圖再處理成需要比較的分辨率下的譜圖。

匹配切趾

由于切趾影響譜圖的視覺分辨率，“切趾函數"的選擇可以讓它們的切趾函數類型相匹配，這樣就可以在同一基礎上對比譜圖了。

匹配填零

填零和分辨率共同決定了數據間隔，填充零可以在采集的數據點之間添加數據點來改善譜線的形狀。使用填充零時，譜線尖銳部位變得更平滑，更象典型的譜峰，選擇1級是在每個數據點之間添加一個數據點，選擇2級是在每個數據點之間添加三個數據點，可以使譜帶形狀更好。

改變格式

可利用“丫軸格式"改變譜圖的格式，使它們具有相同的Y軸單位。

改變校正類型

譜圖修正可以進行 Kramers-Kronig 校正，將鏡反射附件采集的譜圖縱坐標轉換成吸光度時使用;ATR校正，ATR附件采集的譜圖需要和透射法采集的譜圖進行比較時使用，還可以減少水和二氧化碳干擾。

改變譜圖范圍

比如所存儲譜圖數據的范圍是8000到400cm-1，但后來發現只有1800-700 cm-1范圍內的數據是有用的，或者是發現由于使用太小的區域存儲數據導致丟失了有用數據，也可以通過在更大的存儲區域內再處理數據而得到彌補，點擊“譜圖存儲范圍"進行更改即可。

替換背景譜圖

點擊“背景譜圖文件"下方的“瀏覽",打開新背景光譜,就可以替換原來譜圖的背景譜圖。

還可以還原譜圖的初始數據，恢復任何空白的譜圖區域或被直線代替的區域。選中需要處理的光譜打開“再處理",點擊“確定"即可。

但是得注意!

采集的譜圖如需進行再處理，前提條件是譜圖的原始數據已保存，否則無法進行再處理，在采集譜圖的時候，點擊“實驗設置"，點擊“采集"將文件處理右下方“保存干涉圖"勾選上采集好的譜圖后續即可進行再處理。